Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
| 用全速电流测试检测AT89C51微处理器的实验研究 | |
| 荀庆来1; 邝继顺1; 闵应骅2 | |
| 2007 | |
| 发表期刊 | 计算机研究与发展
 |
| ISSN | 1000-1239 |
| 卷号 | 44.0期号:003页码:479 |
| 摘要 | 全速电流测试是一种新的电路测试方法，现以AT89C51微处理器为例，说明用全速电流测试进行微处理器测试的可能性．在实验中，让微处理器重复执行选定的指令序列，以普通的万用数字电流表测量微处理器消耗的平均电流，并给出了指令序列的产生方法．实验结果表明，用全速电流测试在指令级对AT89C51微处理器进行测试是可行的．通过测试所有的数据通路，不但可以检测数据通路的故障，而且可以检测由于控制错误而引起的数据传送错误． |
| 关键词 | 全速电流测试 瞬态电流测试 微处理器测试 指令序列 |
| 语种 | 英语 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/35576 |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
| 作者单位 | 1.湖南大学计算机与通信学院 2.中国科学院计算技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 荀庆来,邝继顺,闵应骅. 用全速电流测试检测AT89C51微处理器的实验研究[J]. 计算机研究与发展,2007,44.0(003):479. |
| APA | 荀庆来,邝继顺,&闵应骅.(2007).用全速电流测试检测AT89C51微处理器的实验研究.计算机研究与发展,44.0(003),479. |
| MLA | 荀庆来,et al."用全速电流测试检测AT89C51微处理器的实验研究".计算机研究与发展 44.0.003(2007):479. |
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