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中国科学院计算技术研究所机构知识库
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ApproxDup: Developing an Approximate Instruction Duplication Mechanism for Efficient SDC Detection in GPGPUs
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2024, 卷号: 43, 期号: 4, 页码: 1051-1064
作者:
Wei, Xiaohui
;
Jiang, Nan
;
Yue, Hengshan
;
Wang, Xiaonan
;
Zhao, Jianpeng
;
Li, Guangli
;
Qiu, Meikang
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提交时间:2024/05/20
Instruction sets
Reliability
Resilience
Circuit faults
Registers
Kernel
Graphics processing units
Approximate computing
GPGPUs
instruction duplication
silent data corruptions (SDCs)
soft error
Statistical Modeling of Soft Error Influence on Neural Networks
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2023, 卷号: 42, 期号: 11, 页码: 4152-4163
作者:
Huang, Haitong
;
Xue, Xinghua
;
Liu, Cheng
;
Wang, Ying
;
Luo, Tao
;
Cheng, Long
;
Li, Huawei
;
Li, Xiaowei
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2024/05/20
Fault analysis
fault simulation
neural network (NN) reliability
statistical fault modeling
Exploring Winograd Convolution for Cost-Effective Neural Network Fault Tolerance
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2023, 卷号: 31, 期号: 11, 页码: 1763-1773
作者:
Xue, Xinghua
;
Liu, Cheng
;
Liu, Bo
;
Huang, Haitong
;
Wang, Ying
;
Luo, Tao
;
Zhang, Lei
;
Li, Huawei
;
Li, Xiaowei
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2024/05/20
Fault tolerant systems
Fault tolerance
Artificial neural networks
Convolution
Reliability
Computational modeling
Neurons
Fault-tolerance
soft errors
vulnerability analysis
winograd convolution (WG-Conv)
Functional Verification for Agile Processor Development: A Case for Workflow Integration
期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2023, 卷号: 38, 期号: 4, 页码: 737-753
作者:
Xu, Yi-Nan
;
Yu, Zi-Hao
;
Wang, Kai-Fan
;
Wang, Hua-Qiang
;
Lin, Jia-Wei
;
Jin, Yue
;
Zhang, Lin-Juan
;
Zhang, Zi-Fei
;
Tang, Dan
;
Wang, Sa
;
Shi, Kan
;
Sun, Ning-Hui
;
Bao, Yun-Gang
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2024/05/20
functional verification
agile development
open-source hardware
workflow integration
Parallel Software-Based Self-Testing with Bounded Model Checking for Kilo-Core Networks-on-Chip
期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2023, 卷号: 38, 期号: 2, 页码: 405-421
作者:
Zhang, Ying
;
Ji, Peng-Fei
;
Zhu, Pan-Wei
;
Peng, Zebo
;
Li, Hua-Wei
;
Jiang, Jian-Hui
收藏
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2023/12/04
software-based self-testing (SBST)
parallel test
kilo-core networks-on-chip (NoCs)
online testing
On-Line Fault Protection for ReRAM-Based Neural Networks
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS, 2023, 卷号: 72, 期号: 2, 页码: 423-437
作者:
Li, Wen
;
Wang, Ying
;
Liu, Cheng
;
He, Yintao
;
Liu, Lian
;
Li, Huawei
;
Li, Xiaowei
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2023/07/12
Training
Fault detection
Computational modeling
Image edge detection
Memristors
Neural networks
Kernel
Deep neural network
hard fault
ReRAM
reliability
soft fault
DRONE: An Efficient Distributed Subgraph-Centric Framework for Processing Large-Scale Power-law Graphs
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON PARALLEL AND DISTRIBUTED SYSTEMS, 2023, 卷号: 34, 期号: 2, 页码: 463-474
作者:
Zhang, Shuai
;
Jiang, Zite
;
Hou, Xingzhong
;
Li, Mingyu
;
Yuan, Mengting
;
You, Haihang
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2023/07/12
Fault tolerance
graph partition
large-scale power-law graph
parallel graph computation
subgraph-centric model
Accurate reliability analysis methods for approximate computing circuits
期刊论文
TSINGHUA SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2022, 卷号: 27, 期号: 4, 页码: 729-740
作者:
Wang, Zhen
;
Zhang, Guofa
;
Ye, Jing
;
Jiang, Jianhui
;
Li, Fengyong
;
Wang, Yong
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浏览/下载:36/0
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提交时间:2022/06/21
Reliability
Integrated circuit reliability
Correlation
Probability
Approximate computing
Integrated circuit modeling
Circuit faults
Approximate Computing Circuit (ACC)
correlation coefficient
iterative Probabilistic Transfer Matrix (PTM)
reliability
FTT-NAS: Discovering Fault-tolerant Convolutional Neural Architecture
期刊论文
ACM TRANSACTIONS ON DESIGN AUTOMATION OF ELECTRONIC SYSTEMS, 2021, 卷号: 26, 期号: 6, 页码: 24
作者:
Ning, Xuefei
;
Ge, Guangjun
;
Li, Wenshuo
;
Zhu, Zhenhua
;
Zheng, Yin
;
Chen, Xiaoming
;
Gao, Zhen
;
Wang, Yu
;
Yang, Huazhong
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浏览/下载:22/0
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提交时间:2022/12/07
Neural architecture search
fault tolerance
neural networks
Fault Modeling and Efficient Testing of Memristor-Based Memory
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2021, 卷号: 68, 期号: 11, 页码: 4444-4455
作者:
Liu, Peng
;
You, Zhiqiang
;
Wu, Jigang
;
Liu, Bosheng
;
Han, Yinhe
;
Chakrabarty, Krishnendu
收藏
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浏览/下载:30/0
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提交时间:2022/06/21
Electrical defects
fault model
defect-oriented testing
March algorithm
non-volatile memory