中国科学院计算技术研究所机构知识库

浏览/检索结果: 共4条，第1-4条

帮助

限定条件	发表日期：2011    语种：英语    专题：中国科学院计算技术研究所期刊论文    第一作者的第一单位    第一作者单位    通讯作者单位

已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择期刊影响因子升序期刊影响因子降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序WOS被引频次升序WOS被引频次降序题名升序题名降序
	Physical Implementation of the Eight-Core Godson-3B Microprocessor 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2011, 卷号: 26, 期号: 3, 页码: 520-527 作者:  Wang, Ru;  Fan, Bao-Xia;  Yang, Liang;  Gao, Yan-Ping;  Liu, Dong;  Xiao, Bin;  Wang, Jiang-Mei;  Zhang, Yi-Fu;  Wang, Hong;  Hu, Wei-Wu 收藏  |  浏览/下载：81/0  |  提交时间：2019/12/16 physical implementation  hierarchical design flow  GALS  clock mesh  low power
	Scan chain design for shift power reduction in scan-based testing 期刊论文 SCIENCE CHINA-INFORMATION SCIENCES, 2011, 卷号: 54, 期号: 4, 页码: 767-777 作者:  Li Jia;  Hu Yu;  Li XiaoWei 收藏  |  浏览/下载：66/0  |  提交时间：2019/12/16 low power DfT  scan-based testing  test power reduction  scan chain design
	MicroFix: Using Timing Interpolation and Delay Sensors for Power Reduction 期刊论文 ACM TRANSACTIONS ON DESIGN AUTOMATION OF ELECTRONIC SYSTEMS, 2011, 卷号: 16, 期号: 2, 页码: 21 作者:  Yan, Guihai;  Han, Yinhe;  Liu, Hui;  Liang, Xiaoyao;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：65/0  |  提交时间：2019/12/16 Design  Performance  Reliability  Power reduction  fine-grained adaptability  DVFS  timing interpolation  delay sensor
	Design for Testability Features of Godson-3 Multicore Microprocessor 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2011, 卷号: 26, 期号: 2, 页码: 302-313 作者:  Qi, Zi-Chu;  Liu, Hui;  Li, Xiang-Ku;  Hu, Wei-Wu 收藏  |  浏览/下载：65/0  |  提交时间：2019/12/16 DFT (design for testability)  TAM (test access mechanism)  multicore processor  low power test