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X-Filling for Simultaneous Shift- and Capture-Power Reduction in At-Speed Scan-Based Testing 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2010, 卷号: 18, 期号: 7, 页码: 1081-1092
作者:  Li, Jia;  Xu, Qiang;  Hu, Yu;  Li, Xiaowei
收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2019/12/16
At-speed scan-based testing  low-power testing  X-filling