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中国科学院计算技术研究所机构知识库
Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
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专题:中国科学院计算技术研究所期刊论文
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HyCA: A Hybrid Computing Architecture for Fault-Tolerant Deep Learning
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2022, 卷号: 41, 期号: 10, 页码: 3400-3413
作者:
Liu, Cheng
;
Chu, Cheng
;
Xu, Dawen
;
Wang, Ying
;
Wang, Qianlong
;
Li, Huawei
;
Li, Xiaowei
;
Cheng, Kwang-Ting
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提交时间:2022/12/07
Circuit faults
Computational modeling
Deep learning
Hardware
Redundancy
Neural networks
Computer architecture
Deep learning accelerator (DLA)
fault detection
fault tolerance
hybrid computing architecture (HyCA)
A Guaranteed Secure Scan Design Based on Test Data Obfuscation by Cryptographic Hash
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2020, 卷号: 39, 期号: 12, 页码: 4524-4536
作者:
Cui, Aijiao
;
Li, Mengyang
;
Qu, Gang
;
Li, Huawei
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浏览/下载:33/0
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提交时间:2021/12/01
Ciphers
Encryption
Integrated circuits
Side-channel attacks
Testing
Cryptographic hash function
obfuscation logic
scan design
scan-based side-channel attack
Software-Based Self-Testing Using Bounded Model Checking for Out-of-Order Superscalar Processors
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2020, 卷号: 39, 期号: 3, 页码: 714-727
作者:
Zhang, Ying
;
Chakrabarty, Krishnendu
;
Peng, Zebo
;
Rezine, Ahmed
;
Li, Huawei
;
Eles, Petru
;
Jiang, Jianhui
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浏览/下载:56/0
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提交时间:2020/12/10
Circuit faults
Built-in self-test
Out of order
Model checking
Integrated circuit modeling
Bounded model checking (BMC)
online testing
out-of-order superscalar processors
software-based self-testing (SBST)
BiloKey : A Scalable Bi-Index Locality-Aware In-Memory Key-Value Store
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON PARALLEL AND DISTRIBUTED SYSTEMS, 2019, 卷号: 30, 期号: 7, 页码: 1528-1540
作者:
Ma, Wenlong
;
Zhu, Yuqing
;
Li, Cheng
;
Guo, Mengying
;
Bao, Yungang
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浏览/下载:86/0
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提交时间:2019/08/16
In-memory key-value store
multi-core scalability
locality-aware networking
hybrid index
lock-free access
Scan chain design for shift power reduction in scan-based testing
期刊论文
SCIENCE CHINA-INFORMATION SCIENCES, 2011, 卷号: 54, 期号: 4, 页码: 767-777
作者:
Li Jia
;
Hu Yu
;
Li XiaoWei
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浏览/下载:69/0
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提交时间:2019/12/16
low power DfT
scan-based testing
test power reduction
scan chain design
Using Launch-on-Capture for Testing Scan Designs Containing Synchronous and Asynchronous Clock Domains
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2011, 卷号: 30, 期号: 3, 页码: 455-463
作者:
Wu, Shianling
;
Wang, Laung-Terng
;
Wen, Xiaoqing
;
Jiang, Zhigang
;
Tan, Lang
;
Zhang, Yu
;
Hu, Yu
;
Jone, Wen-Ben
;
Hsiao, Michael S.
;
Li, James Chien-Mo
;
Huang, Jiun-Lang
;
Yu, Lizhen
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浏览/下载:71/0
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提交时间:2019/12/16
Aligned launch-on-capture
at-speed scan testing
double-capture
hybrid launch-on-capture
launch-on-capture
one-hot launch-on-capture
staggered launch-on-capture
Design for Testability Features of Godson-3 Multicore Microprocessor
期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2011, 卷号: 26, 期号: 2, 页码: 302-313
作者:
Qi, Zi-Chu
;
Liu, Hui
;
Li, Xiang-Ku
;
Hu, Wei-Wu
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浏览/下载:68/0
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提交时间:2019/12/16
DFT (design for testability)
TAM (test access mechanism)
multicore processor
low power test
A Novel Post-Silicon Debug Mechanism Based on Suspect Window
期刊论文
IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2010, 卷号: E93D, 期号: 5, 页码: 1175-1185
作者:
Jianliang Gao
;
Yinhe Han
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Xiaowei Li
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提交时间:2019/12/16
debug
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real-time trace
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无权访问的条目
期刊论文
作者:
张颖
;
李华伟
;
李晓维
;
胡瑜
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提交时间:2010/11/08
无权访问的条目
期刊论文
作者:
王飞
;
胡瑜
;
李晓维
Adobe PDF(547Kb)
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提交时间:2010/11/09