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Statistical lifetime reliability optimization considering joint effect of process variation and aging 期刊论文
INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2011, 卷号: 44, 期号: 3, 页码: 185-191
作者:  Jin, Song;  Han, Yinhe;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei
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Lifetime reliability  Process variation  NBTI  Duty cycle  Gate sizing  
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作者:  韩琥
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无权访问的条目 学位论文
作者:  王鹏
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作者:  祝贺
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无权访问的条目 学位论文
作者:  程元
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无权访问的条目 学位论文
作者:  朱晏
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无权访问的条目 学位论文
作者:  张铁赢
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无权访问的条目 学位论文
作者:  张科
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无权访问的条目 学位论文
作者:  俞力克
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无权访问的条目 学位论文
作者:  tushuguan
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