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| Compression/scan co-design for reducing test data volume, scan-in power dissipation, and test application time 期刊论文
IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2006, 卷号: E89D, 期号: 10, 页码: 2616-2625
作者: Hu, Yu; Han, Yinhe; Li, Xiaowei; Li, Huawei; Wen, Xiaoqing
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作者: 李华伟; 李晓维
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作者: 韩银和; 胡瑜; 董婕; 王伟; 李华伟; 李晓维
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作者: 李佳; 胡瑜; 李晓维; 王伟
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作者: 王伟; 韩银和; 胡瑜; 李晓维; 张佑生
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作者: 黄海林; 范东睿; 许彤; 朱鹏飞; 郑保建; 曹非; 陈亮
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