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面向串扰时延效应的时序分析方法及在集成电路测试中的应用 期刊论文
计算机学报, 2007, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1681
作者:  张旻晋;  李华伟;  李晓维
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串扰  静态时序分析  通路时延故障  时延测试  
一种微处理器芯片的验证测试分析及应用 期刊论文
计算机工程, 2006, 卷号: 32.0, 期号: 009, 页码: 219
作者:  檀彦卓;  韩银和;  李晓维
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验证测试  生产测试  失效分析  可测试性设计  故障模型  
基于CTL的SOCIP核的测试技术 期刊论文
计算机工程与科学, 2005, 卷号: 27.0, 期号: 004, 页码: 43
作者:  吴明行;  韩银和;  李晓维
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核测试语言  CTL语言  SOCIP核  测试技术  程序语言  
面向存储器核的内建自测试 期刊论文
计算机工程与科学, 2005, 卷号: 27.0, 期号: 004, 页码: 40
作者:  檀彦卓;  徐勇军;  韩银和;  李华伟;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
嵌入式随机存储器  测试  存储器  存储器核  自测试技术