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一种微处理器芯片的验证测试分析及应用 期刊论文
计算机工程, 2006, 卷号: 32.0, 期号: 009, 页码: 219
作者:  檀彦卓;  韩银和;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
验证测试  生产测试  失效分析  可测试性设计  故障模型  
面向存储器核的内建自测试 期刊论文
计算机工程与科学, 2005, 卷号: 27.0, 期号: 004, 页码: 40
作者:  檀彦卓;  徐勇军;  韩银和;  李华伟;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
嵌入式随机存储器  测试  存储器  存储器核  自测试技术  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  檀彦卓;  韩银和;  李晓维
Adobe PDF(109Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/03/30