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A novel RTL behavioral description based ATPG method 期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2003, 卷号: 18, 期号: 3, 页码: 308-317
作者:  Yin, ZG;  Min, YH;  Li, XW;  Li, HW
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RTL (Register Transfer Level)  ATPG (Automatic Test Pattern Generation)  behavioral description  HDL (Hardware Description Language)  
I-DDT: Fundamentals and test generation 期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2003, 卷号: 18, 期号: 3, 页码: 299-307
作者:  Kuang, JS;  You, ZQ;  Zhu, QJ;  Min, YH
收藏  |  浏览/下载:76/0  |  提交时间:2019/12/16
I-DDT testing  logical transition  hazard  stuck-open fault  
Fault-tolerant systems with concurrent error-locating capability 期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2003, 卷号: 18, 期号: 2, 页码: 190-200
作者:  Jiang, JH;  Min, YH;  Peng, CL
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fault-tolerant system  concurrent error location  concurrent error correction  dual-module redundancy  robust fault-masking