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多核处理器硅后调试技术研究最新进展 期刊论文
计算机应用研究, 2013, 卷号: 30.0, 期号: 002, 页码: 321
作者:  高建良;  韩银和
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多核处理器  硅后调试  非确定性错误  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  张磊;  韩银和;  李晓维
Adobe PDF(414Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:0/0  |  提交时间:2010/03/30
龙芯3号多核处理器的低功耗测试技术 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 011, 页码: 2021
作者:  齐子初;  刘慧;  石小兵;  韩银和
收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04
低功耗测试  微处理器测试  多核微处理器测试  基于IP的测试