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采用关键路径漏电流变化分析的集成电路老化预测方法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2015, 卷号: 27.0, 期号: 002, 页码: 371
作者:  邱吉冰;  韩银和;  靳松;  李晓维
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负偏置温度不稳定性  漏电流  老化  工艺偏差  
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作者:  王飞;  胡瑜;  李晓维
Adobe PDF(547Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/11/09
无权访问的条目 期刊论文
作者:  范小鑫;  李华伟;  胡瑜;  李晓维
Adobe PDF(261Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/11/22
无权访问的条目 期刊论文
作者:  李佳;  胡瑜;  李晓维;  王伟
Adobe PDF(482Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/11/22
无权访问的条目 期刊论文
作者:  陈静华;  陈迪平;  徐勇军;  张志敏;  李晓维
Adobe PDF(521Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/11/23
无权访问的条目 期刊论文
作者:  韩银和;  李晓维
Adobe PDF(444Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/11/23