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Wrapper scan chains design for rapid and low power testing of embedded cores 期刊论文
IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2005, 卷号: E88D, 期号: 9, 页码: 2126-2134
作者:  Han, YH;  Hu, Y;  Li, XW;  Li, HW;  Chandra, A;  Wen, XQ
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SOC testing  wrapper design  scan slices  overlapping