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采用关键路径漏电流变化分析的集成电路老化预测方法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2015, 卷号: 27.0, 期号: 002, 页码: 371
作者:  邱吉冰;  韩银和;  靳松;  李晓维
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负偏置温度不稳定性  漏电流  老化  工艺偏差  
面向内存的混合容错编码动态调节设计 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2014, 卷号: 26.0, 期号: 009, 页码: 1479
作者:  李冰;  单书畅;  胡瑜;  高翔;  李晓维
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内存系统  可靠性  容错设计  纠错检错编码  
考虑工作负载影响的电路老化预测方法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 012, 页码: 2242
作者:  靳松;  韩银和;  李华伟;  李晓维
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负偏置温度不稳定性  电路老化  占空比  非线性优化  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  赵阳;  吕涛;  李华伟;  李晓维
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  张旻晋;  李华伟;  李晓维
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  谢远江;  王达;  胡瑜;  李晓维
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  张颖;  李华伟;  李晓维;  胡瑜
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  沈海华;  卫文丽;  陈云霁
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  傅亮;  卢鼎;  张志敏;  孙愿
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  王飞;  胡瑜;  李晓维
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