中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	Wrapper scan chains design for rapid and low power testing of embedded cores 期刊论文 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2005, 卷号: E88D, 期号: 9, 页码: 2126-2134 作者:  Han, YH;  Hu, Y;  Li, XW;  Li, HW;  Chandra, A;  Wen, XQ 收藏  |  浏览/下载：50/0  |  提交时间：2019/12/16 SOC testing  wrapper design  scan slices  overlapping