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	Defect Analysis and Parallel Testing or 3D Hybrid CMOS-Memristor Memory 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON EMERGING TOPICS IN COMPUTING, 2021, 卷号: 9, 期号: 2, 页码: 745-758 作者: Liu, Peng; You, Zhiqiang; Wu, Jigang; Elimu, Michael; Wang, Weizheng; Cai, Shuo; Han, Yinhe 收藏 \| 浏览/下载：37/0 \| 提交时间：2021/12/01 Non-volatile memory RRAM CMOL memristor testing
	A signal degradation reduction method for memristor ratioed logic (MRL) gates 期刊论文 IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 2015, 卷号: 12, 期号: 8, 页码: 6 作者: Liu, Bosheng l; Wang, Ying; You, Zhiqiang; Han, Yinhe; Li, Xiaowei 收藏 \| 浏览/下载：43/0 \| 提交时间：2019/12/13 full adder memristor ratioed logic (MRL) gate

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