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Cluster Restoration-Based Trace Signal Selection for Post-Silicon Debug 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2019, 卷号: 38, 期号: 4, 页码: 767-779
作者:  Cheng, Yun;  Li, Huawei;  Wang, Ying;  Li, Xiaowei
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Cluster generation  post-silicon debug  state restoration  trace signal selection  
A Novel Post-Silicon Debug Mechanism Based on Suspect Window 期刊论文
IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2010, 卷号: E93D, 期号: 5, 页码: 1175-1185
作者:  Jianliang Gao;  Yinhe Han;  Xiaowei Li
收藏  |  浏览/下载：44/0  |  提交时间：2019/12/16
debug  scan dump  real-time trace  suspect window