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RTL集成电路的时序深度 期刊论文
同济大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1209
作者:  高燕;  沈理
收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04
RTL集成电路  高层次测试  硬件描述语言  时序深度  寄存器传输液  芯片设计