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一种遵循IEEE 1149．1标准的可测试性设计结构 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 005, 页码: 23
作者:  尹志刚;  李华伟;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04
IEEE1149.1标准  国际标准  可测试性设计结构  时序电路