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中国科学院计算技术研究所机构知识库
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期刊论文 [2]
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2015 [1]
2009 [1]
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采用关键路径漏电流变化分析的集成电路老化预测方法
期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2015, 卷号: 27.0, 期号: 002, 页码: 371
作者:
邱吉冰
;
韩银和
;
靳松
;
李晓维
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提交时间:2023/12/04
负偏置温度不稳定性
漏电流
老化
工艺偏差
一种模块级的温度感知漏电功耗估计策略
期刊论文
高技术通讯, 2009, 卷号: 19.0, 期号: 011, 页码: 1181
作者:
刘晓飞
;
张戈
;
姚志刚
;
肖天昊
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提交时间:2023/12/04
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