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数字电路测试压缩方法研究 期刊论文
中国科学院研究生院学报, 2007, 卷号: 24.0, 期号: 006, 页码: 847
作者:  HAN YinHe;  LI XiaoWei
收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04
系统芯片  测试激励压缩  测试响应压缩  扫描设计  自动测试向量生成（ATPG）  不关心位  未知位  卷积编码