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一种遵循IEEE 1149．1标准的可测试性设计结构 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 005, 页码: 23
作者:  尹志刚;  李华伟;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2023/12/04
IEEE1149.1标准  国际标准  可测试性设计结构  时序电路  
测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 52
作者:  骆祖莹;  李晓维;  洪先龙
收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2023/12/04
功耗  海明距离  集成电路  向量测试  电路功耗  时序电路  
有限状态机的行为阶段聚类及其对测试的应用 期刊论文
中国科学：E辑, 2002, 卷号: 32.0, 期号: 006, 页码: 846
作者:  李华伟;  闵应骅;  李忠诚
收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2023/12/04
行为阶段聚类  有限状态机  行为描述  测试产生系统  数学模型  状态转换函数  时序电路