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	一种微处理器芯片的验证测试分析及应用期刊论文计算机工程, 2006, 卷号: 32.0, 期号: 009, 页码: 219 作者: 檀彦卓; 韩银和; 李晓维收藏 \| 浏览/下载：10/0 \| 提交时间：2023/12/04 验证测试生产测试失效分析可测试性设计故障模型
	无权访问的条目期刊论文作者: 韩银和; 李晓维; 罗飞茵; 林建京; 陈宇川; 朱小荣 Adobe PDF(408Kb) \| 收藏 \| 浏览/下载：0/0 \| 提交时间：2010/11/23

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