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Defect Analysis and Parallel Testing or 3D Hybrid CMOS-Memristor Memory 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON EMERGING TOPICS IN COMPUTING, 2021, 卷号: 9, 期号: 2, 页码: 745-758
作者:  Liu, Peng;  You, Zhiqiang;  Wu, Jigang;  Elimu, Michael;  Wang, Weizheng;  Cai, Shuo;  Han, Yinhe
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Non-volatile memory  RRAM  CMOL  memristor  testing