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Design for Testability Features of Godson-3 Multicore Microprocessor 期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2011, 卷号: 26, 期号: 2, 页码: 302-313
作者:  Qi, Zi-Chu;  Liu, Hui;  Li, Xiang-Ku;  Hu, Wei-Wu
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DFT (design for testability)  TAM (test access mechanism)  multicore processor  low power test  
一种有效降低扫描结构测试功耗的方法 期刊论文
湖南大学学报：自然科学版, 2009, 卷号: 36.0, 期号: 012, 页码: 45
作者:  张红南;  王松;  徐君;  李向库;  张志伟
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扫描测试  测试向量  组合逻辑电路  动态功耗