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SER-Tvpack：基于软错误率评估的SRAM型FPGA的装箱算法 期刊论文
计算机研究与发展, 2014, 卷号: 51.0, 期号: 008, 页码: 1764
作者:  夏静;  王天成;  吕涛;  李华伟;  邝继顺
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SRAM型FPGA  软错误率  可靠性  装箱  单粒子翻转  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  荀庆来;  邝继顺;  闵应骅
Adobe PDF(431Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/10/13
用全速电流测试检测AT89C51微处理器的实验研究 期刊论文
计算机研究与发展, 2007, 卷号: 44.0, 期号: 003, 页码: 479
作者:  荀庆来;  邝继顺;  闵应骅
收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04
全速电流测试  瞬态电流测试  微处理器测试  指令序列  
I-DDT: Fundamentals and test generation 期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2003, 卷号: 18, 期号: 3, 页码: 299-307
作者:  Kuang, JS;  You, ZQ;  Zhu, QJ;  Min, YH
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I-DDT testing  logical transition  hazard  stuck-open fault