中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	Defect Analysis and Parallel Testing or 3D Hybrid CMOS-Memristor Memory 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON EMERGING TOPICS IN COMPUTING, 2021, 卷号: 9, 期号: 2, 页码: 745-758 作者:  Liu, Peng;  You, Zhiqiang;  Wu, Jigang;  Elimu, Michael;  Wang, Weizheng;  Cai, Shuo;  Han, Yinhe 收藏  |  浏览/下载：50/0  |  提交时间：2021/12/01 Non-volatile memory  RRAM  CMOL  memristor  testing