中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	缺陷检测的稀疏表示模型及应用 期刊论文 计算机研究与发展, 2014, 卷号: 51.0, 期号: 009, 页码: 1929 作者:  李清勇;  梁正平;  黄雅平;  史忠植 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2023/12/04 稀疏表示  缺陷检测  盲源分离  形态成分分析  轨道检测