中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	Statistical energy optimization on voltage-frequency island based MPSoCs in the presence of process variations 期刊论文 MICROELECTRONICS JOURNAL, 2016, 卷号: 54, 页码: 23-31 作者:  Jin, Song;  Han, Yinhe;  Pei, Songwei 收藏  |  浏览/下载：42/0  |  提交时间：2019/12/13 System energy  Process variation  Voltage-frequency island  Multiprocessor system-on-chip
	A Cost-Effective Energy Optimization Framework of Multicore SoCs Based on Dynamically Reconfigurable Voltage-Frequency Islands 期刊论文 ACM TRANSACTIONS ON DESIGN AUTOMATION OF ELECTRONIC SYSTEMS, 2016, 卷号: 21, 期号: 2, 页码: 14 作者:  Jin, Song;  Pei, Songwei;  Han, Yinhe;  Li, Huawei 收藏  |  浏览/下载：42/0  |  提交时间：2019/12/13 System energy  dynamic voltage-frequency island  task scheduling  VFI partitioning  multicore system-on-chip  energy
	面向三维多核片上系统的热感知硅后能耗优化方法 期刊论文 计算机学报, 2016, 卷号: 39.0, 期号: 009, 页码: 1763 作者:  靳松;  韩银和;  王瑜 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04 系统能耗  三维多核片上系统  工艺偏差  电压/频率岛  任务调度  热优化
	采用关键路径漏电流变化分析的集成电路老化预测方法 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2015, 卷号: 27.0, 期号: 002, 页码: 371 作者:  邱吉冰;  韩银和;  靳松;  李晓维 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2023/12/04 负偏置温度不稳定性  漏电流  老化  工艺偏差
	无权访问的条目 学位论文 作者:  张金松 Adobe PDF(2450Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2014/06/30
	Statistical lifetime reliability optimization considering joint effect of process variation and aging 期刊论文 INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2011, 卷号: 44, 期号: 3, 页码: 185-191 作者:  Jin, Song;  Han, Yinhe;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：72/0  |  提交时间：2019/12/16 Lifetime reliability  Process variation  NBTI  Duty cycle  Gate sizing
	无权访问的条目 学位论文 作者:  靳松 Adobe PDF(2295Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2011/07/04
	考虑工作负载影响的电路老化预测方法 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 012, 页码: 2242 作者:  靳松;  韩银和;  李华伟;  李晓维 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04 负偏置温度不稳定性  电路老化  占空比  非线性优化