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采用关键路径漏电流变化分析的集成电路老化预测方法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2015, 卷号: 27.0, 期号: 002, 页码: 371
作者:  邱吉冰;  韩银和;  靳松;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2023/12/04
负偏置温度不稳定性  漏电流  老化  工艺偏差  
无权访问的条目 学位论文
作者:  邱吉冰
Adobe PDF(3520Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2002/02/13
基于二进制插桩的共享指令集异构多核处理器进程迁移方法 期刊论文
高技术通讯, 2014, 卷号: 24, 期号: 1, 页码: 23
作者:  刘宏伟;  邱吉;  高翔;  陈云霁
收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2023/12/04
共享指令集(ISA)  异构多核处理器  进程迁移  二进制插桩  内核模拟  
无权访问的条目 学位论文
作者:  邱吉
Adobe PDF(1315Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2013/06/27