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Cluster Restoration-Based Trace Signal Selection for Post-Silicon Debug 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2019, 卷号: 38, 期号: 4, 页码: 767-779
作者:  Cheng, Yun;  Li, Huawei;  Wang, Ying;  Li, Xiaowei
收藏  |  浏览/下载：85/0  |  提交时间：2019/08/16
Cluster generation  post-silicon debug  state restoration  trace signal selection  
基于寄存器簇恢复的追踪信号选择方法 期刊论文
计算机学报, 2018, 卷号: 41.0, 期号: 010, 页码: 2318
作者:  程云;  李华伟;  王颖;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2023/12/04
追踪调试  追踪信号选择  状态恢复率  硅后调试  
无权访问的条目 学位论文
作者:  程云
Adobe PDF(2067Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2017/12/26