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测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 52
作者:  骆祖莹;  李晓维;  洪先龙
收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04
功耗  海明距离  集成电路  向量测试  电路功耗  时序电路