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| Path Delay Test Generation Toward Activation of Worst Case Coupling Effects 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2011, 卷号: 19, 期号: 11, 页码: 1969-1982
作者: Zhang, Minjin; Li, Huawei; Li, Xiaowei
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Crosstalk-induced delay delay testing path delay fault signal integrity test generation timing analysis |
| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 张旻晋; 李华伟; 李晓维
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 张旻晋; 李华伟; 李晓维
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 张旻晋; 李华伟; 李晓维
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| 面向串扰时延效应的时序分析方法及在集成电路测试中的应用 期刊论文
计算机学报, 2007, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1681
作者: 张旻晋; 李华伟; 李晓维
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串扰 静态时序分析 通路时延故障 时延测试 |
| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 张旻晋; 桂文明; 苏涤生; 王飞; 韩银和; 李华伟; 李晓维
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