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无权访问的条目 学位论文
作者:  刘军
Adobe PDF(2193Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2011/07/04
Embedded test decompressor to reduce the required channels and vector memory of tester for complex processor circuit 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2007, 卷号: 15, 期号: 5, 页码: 531-540
作者:  Han, Yinhe;  Hu, Yu;  Li, Xiaowei;  Li, Huawei;  Chandra, Anshuman
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automatic test equipment (ATE)  Godson processor  MUX network  test stimulus decompression