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无权访问的条目 学位论文
作者:  曹旭
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On-Chip Generating FPGA Test Configuration Bitstreams to Reduce Manufacturing Test Time 期刊论文
CHINESE JOURNAL OF ELECTRONICS, 2016, 卷号: 25, 期号: 1, 页码: 64-70
作者:  Wang Fei;  Wang Da;  Yang Haigang;  Xie Xianghui;  Fan Dongrui
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FPGA test  Test configuration bitstream  Design-for-testability  
无权访问的条目 学位论文
作者:  杨恩山
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无权访问的条目 学位论文
作者:  段勃
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无权访问的条目 学位论文
作者:  邓珊珊
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