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| Defect Analysis and Parallel Testing or 3D Hybrid CMOS-Memristor Memory 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON EMERGING TOPICS IN COMPUTING, 2021, 卷号: 9, 期号: 2, 页码: 745-758
作者: Liu, Peng; You, Zhiqiang; Wu, Jigang; Elimu, Michael; Wang, Weizheng; Cai, Shuo; Han, Yinhe
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Non-volatile memory RRAM CMOL memristor testing |
| A Guaranteed Secure Scan Design Based on Test Data Obfuscation by Cryptographic Hash 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2020, 卷号: 39, 期号: 12, 页码: 4524-4536
作者: Cui, Aijiao; Li, Mengyang; Qu, Gang; Li, Huawei
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Ciphers Encryption Integrated circuits Side-channel attacks Testing Cryptographic hash function obfuscation logic scan design scan-based side-channel attack |
| 无权访问的条目 学位论文
作者: 陈华军
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| 无权访问的条目 其他
作者: 廖望
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| 无权访问的条目 学位论文
作者: 王岗
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| 无权访问的条目 学位论文
作者: 刘辉聪
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| 无权访问的条目 学位论文
作者: 方运潭
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| 无权访问的条目 学位论文
作者: 叶靖
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| 无权访问的条目 学位论文
作者: 肖焜
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| 无权访问的条目 学位论文
作者: 王静文
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