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基于输出违例概率的时延向量测试质量评估 期刊论文
电子学报, 2011, 卷号: 39.0, 期号: 005, 页码: 1031
作者:  王杰;  梁华国;  李华伟;  闵应骅;  李晓维
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小时延缺陷  时延测试  冒险  测试质量评估  输出违例概率  
集成电路中冒险的检测和消除 期刊论文
计算机工程与应用, 2002, 卷号: 38.0, 期号: 014, 页码: 211
作者:  刘国华;  余潇洋;  闵应骅;  李晓维
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集成电路  冒险  检测  消除  带符号路径长度  CMOS集成电路  低功耗设计