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一种微处理器芯片的验证测试分析及应用 期刊论文
计算机工程, 2006, 卷号: 32.0, 期号: 009, 页码: 219
作者:  檀彦卓;  韩银和;  李晓维
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验证测试  生产测试  失效分析  可测试性设计  故障模型  
应用于逻辑核的BIST关键技术研究 期刊论文
计算机工程, 2005, 卷号: 31.0, 期号: 023, 页码: 55
作者:  李吉;  徐勇军;  韩银和;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
可测性设计  逻辑内建自测试  测试点插入  
基于JTAG标准的边界扫描在通用CPU中的设计 期刊论文
计算机工程, 2004, 卷号: 30.0, 期号: 019, 页码: 30
作者:  鲁巍;  杨修涛;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
边界扫描  可测性设计  IEEEI  149．1  标准（JTAG）