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SER-Tvpack：基于软错误率评估的SRAM型FPGA的装箱算法 期刊论文
计算机研究与发展, 2014, 卷号: 51.0, 期号: 008, 页码: 1764
作者:  夏静;  王天成;  吕涛;  李华伟;  邝继顺
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SRAM型FPGA  软错误率  可靠性  装箱  单粒子翻转  
用全速电流测试检测AT89C51微处理器的实验研究 期刊论文
计算机研究与发展, 2007, 卷号: 44.0, 期号: 003, 页码: 479
作者:  荀庆来;  邝继顺;  闵应骅
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全速电流测试  瞬态电流测试  微处理器测试  指令序列