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MicroFix: Using Timing Interpolation and Delay Sensors for Power Reduction 期刊论文
ACM TRANSACTIONS ON DESIGN AUTOMATION OF ELECTRONIC SYSTEMS, 2011, 卷号: 16, 期号: 2, 页码: 21
作者:  Yan, Guihai;  Han, Yinhe;  Liu, Hui;  Liang, Xiaoyao;  Li, Xiaowei
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Design  Performance  Reliability  Power reduction  fine-grained adaptability  DVFS  timing interpolation  delay sensor  
Design for Testability Features of Godson-3 Multicore Microprocessor 期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2011, 卷号: 26, 期号: 2, 页码: 302-313
作者:  Qi, Zi-Chu;  Liu, Hui;  Li, Xiang-Ku;  Hu, Wei-Wu
收藏  |  浏览/下载：65/0  |  提交时间：2019/12/16
DFT (design for testability)  TAM (test access mechanism)  multicore processor  low power test