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Cluster Restoration-Based Trace Signal Selection for Post-Silicon Debug 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2019, 卷号: 38, 期号: 4, 页码: 767-779
作者:  Cheng, Yun;  Li, Huawei;  Wang, Ying;  Li, Xiaowei
收藏  |  浏览/下载：78/0  |  提交时间：2019/08/16
Cluster generation  post-silicon debug  state restoration  trace signal selection