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采用关键路径漏电流变化分析的集成电路老化预测方法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2015, 卷号: 27.0, 期号: 002, 页码: 371
作者:  邱吉冰;  韩银和;  靳松;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
负偏置温度不稳定性  漏电流  老化  工艺偏差