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“存储＋逻辑”3D集成电路的硅通孔可测试性设计 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2014, 卷号: 26.0, 期号: 1.0, 页码: 146
作者:  叶靖;  郭瑞峰;  胡瑜;  郑武东;  黄宇;  赖李洋;  李晓维
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3D集成电路  硅通孔  可测试性设计  JEDEC协议JESD229  IEEE  1149  1协议  
面向内存的混合容错编码动态调节设计 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2014, 卷号: 26.0, 期号: 009, 页码: 1479
作者:  李冰;  单书畅;  胡瑜;  高翔;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
内存系统  可靠性  容错设计  纠错检错编码