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采用关键路径漏电流变化分析的集成电路老化预测方法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2015, 卷号: 27.0, 期号: 002, 页码: 371
作者:  邱吉冰;  韩银和;  靳松;  李晓维
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负偏置温度不稳定性  漏电流  老化  工艺偏差  
基于信号跳变时间可调整的容错路由器 期刊论文
同济大学学报：自然科学版, 2015, 卷号: 43.0, 期号: 002, 页码: 305
作者:  张颖;  江建慧;  李华伟;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2023/12/04
容错路由器  信号跳变时间可调整（STTA）  总线串扰效应  单事件翻转（SEU）  双内锁单元（DICE）