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应用于逻辑核的BIST关键技术研究 期刊论文
计算机工程, 2005, 卷号: 31.0, 期号: 023, 页码: 55
作者:  李吉;  徐勇军;  韩银和;  李晓维
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可测性设计  逻辑内建自测试  测试点插入  
面向存储器核的内建自测试 期刊论文
计算机工程与科学, 2005, 卷号: 27.0, 期号: 004, 页码: 40
作者:  檀彦卓;  徐勇军;  韩银和;  李华伟;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
嵌入式随机存储器  测试  存储器  存储器核  自测试技术