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限定条件	出处：IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS    专题：中国科学院计算技术研究所期刊论文    第一作者的第一单位    第一作者单位    通讯作者单位

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	X-Filling for Simultaneous Shift- and Capture-Power Reduction in At-Speed Scan-Based Testing 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2010, 卷号: 18, 期号: 7, 页码: 1081-1092 作者:  Li, Jia;  Xu, Qiang;  Hu, Yu;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2019/12/16 At-speed scan-based testing  low-power testing  X-filling
	On Topology Reconfiguration for Defect-Tolerant NoC-Based Homogeneous Manycore Systems 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2009, 卷号: 17, 期号: 9, 页码: 1173-1186 作者:  Zhang, Lei;  Han, Yinhe;  Xu, Qiang;  Li, Xiao wei;  Li, Huawei 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2019/12/16 Defect tolerance  manycore system  network-on-chip  core-level redundancy  topology reconfiguration