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应用于逻辑核的BIST关键技术研究 期刊论文
计算机工程, 2005, 卷号: 31.0, 期号: 023, 页码: 55
作者:  李吉;  徐勇军;  韩银和;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
可测性设计  逻辑内建自测试  测试点插入