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集成电路中冒险的检测和消除 期刊论文
计算机工程与应用, 2002, 卷号: 38.0, 期号: 014, 页码: 211
作者:  刘国华;  余潇洋;  闵应骅;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
集成电路  冒险  检测  消除  带符号路径长度  CMOS集成电路  低功耗设计