中国科学院计算技术研究所机构知识库

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限定条件	出处：微电子学与计算机

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	一种遵循IEEE 1149．1标准的可测试性设计结构 期刊论文 微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 005, 页码: 23 作者:  尹志刚;  李华伟;  李晓维 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04 IEEE1149.1标准  国际标准  可测试性设计结构  时序电路