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Fault tolerance on-chip:a reliable computing paradigm using self-test,self-diagnosis,and self-repair (3S)approach 期刊论文
中国科学:信息科学(英文版), 2018, 卷号: 61.0, 期号: 011, 页码: 112102
作者:  Xiaowei LI;  Guihai YAN;  Jing YE;  Ying WANG
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
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